至於電晶體的損壞,由於只有三個腳位,應該比較容易分析原因。測試方法則與前面所述相同,但是其結果與電晶體的功率高低有關。一般而言,小功率的電晶體,如果因為負載功率不足而燒毀,會使E,B,C各腳位元均為開路狀態。 如果因電壓過高損壞,尤其是C腳,會使C E 或 C B腳位間成為短路低阻抗狀態。如果是E B腳位元間為短路低阻抗狀態,應該是B腳位輸入端,過高的負電位所致。如果是E B腳位元間為開路高阻抗狀態,應該是B腳位輸入端,過高的正電位所致。這兩種情形除非是偏壓電阻錯誤,應該是高波幅的脈波信號經直流隔離電容後,產生過量的充放電脈波所造成。至於大功率電晶體,如果因為負載功率不足而燒毀,則是E, C腳位元為短路狀態,E, B腳位元卻為開路狀態。