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電子元件的故障特點

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發表於 2007-11-23 20:12:51 | 顯示全部樓層 |閱讀模式
電器設備內部的電子元器件雖然數量很多,但其故障卻是有規律可循的。
1.電阻損壞的特點
    電阻是電器設備中數量最多的元件,但不是損壞率最高的元件。電阻損壞以開路最常見,阻值變大次之,阻值變小則十分少見。常見的有碳膜電阻、金屬膜電阻、線繞電阻和保險電阻幾種。前兩種電阻應用最廣,其損壞的特點一是低阻值(100Ω以下)和高阻值(100kΩ以上)的損壞率較高,中間阻值(如幾百歐到幾十千歐)的較少損壞;二是低阻值電阻損壞時往往是燒焦發黑,很容易發現,而高阻值電阻損壞時很少有痕跡。線繞電阻一般用作大電流限流,阻值不大。圓柱形線繞電阻燒壞時有的會發黑或表面爆皮、裂紋,有的沒有痕跡。水泥電阻是線繞電阻的一種,燒壞時可能會斷裂,否則也沒有可見痕跡。保險電阻燒壞時有的表面會炸掉一塊皮,有的也沒有什麼痕跡,但絕不會燒焦發黑。根據以上特點,在檢查電阻時可有所側重,快速找出損壞的電阻。
2.電解電容損壞的特點
    電解電容在電器設備中的用量很大,故障率很高。電解電容損壞有以下幾種表現:一是完全失去容量或容量變小;二是輕微或嚴重漏電;三是失去容量或容量變小兼有漏電。查找損壞的電解電容方法有:
(1)看:有的電容損壞時會漏液,電容下面的電路板表面甚至電容外表都會有一層油漬,這種電容絕對不能再用;有的電容損壞後會鼓起,這種電容也不能繼續使用;
(2)摸:開機後有些漏電嚴重的電解電容會發熱,用手指觸摸時甚至會燙手,這種電容必須更換;
(3)電解電容內部有電解液,長時間烘烤會使電解液變乾,導致電容量減小,所以要重點檢查散熱片及大功率元器件附近的電容,離其越近,損壞的可能性就越大。
3.二極體、電晶體等半導體器件損壞的特點
    二極體、電晶體的損壞一般是PN結擊穿或開路,其中以擊穿短路居多。此外還有兩種損壞表現:一是熱穩定性變差,表現為開機時正常,工作一段時間後,發生軟擊穿;另一種是PN結的特性變差,用萬用表R×1k測 ,各PN結均正常,但上機後不能正常工作,如果用R×10或R×1低量程檔測,就會發現其PN正向阻值比正常值大。測量二極體、電晶體可以用指標萬用表在電路測量,較準確的方法是:將萬用表置R×10或R×1檔(一般用R×10檔,不明顯時再用R×1檔)在電路測二極體、電晶體的PN正、反向電阻,如果正向電阻不太大(相對正常值),反向電阻足夠大(相對正向值),表明該PN正常,反之就值得懷疑,需焊下後再測。這是因為一般電路的二極體、電晶體週邊電阻大多在幾百、幾千歐以上,用萬用表低阻值檔在電路測量,可以基本忽略週邊電阻對PN電阻的影響。
4.積體電路損壞的特點
    積體電路內部結構複雜,功能很多,任何一部分損壞都無法正常工作。積體電路的損壞也有兩種:徹底損壞、熱穩定性不良。徹底損壞時,可將其拆下,與正常同型號積體電路對比測其每一引腳對地的正、反向電阻,總能找到其中一隻或幾隻引腳阻值異常。對熱穩定性差的,可以在設備工作時,用無水酒精冷卻被懷疑的積體電路,如果故障發生時間推遲或不再發生故障,即可判定。通常只能更換新積體電路來排除。

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5

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發表於 2009-12-12 22:20:24 | 顯示全部樓層
了解零件特性就能更快找出故障零件排除故障
發表於 2009-12-16 23:19:12 | 顯示全部樓層
( 二是輕微或嚴重漏電 )
Wish老師,用萬用表可测到電解電容漏電嗎?
發表於 2009-12-19 00:12:34 | 顯示全部樓層
了解消化中
謝謝w大的資料
感恩
發表於 2009-12-19 00:46:32 | 顯示全部樓層
一般電晶體快速檢測方式...(未送電檢測)

先確認E C B 腳位,然後用三用電表RX10檔位,量 C E 腳位,紅黑棒交替測量....

不管NPN 或 PNP 它的CE腳位阻值都很大,如果被擊穿,大部份都成短路現象(在放大電路上或開闢線路)

如正常再確認是NPN 或 PNP 之後量測BC 和 BE的接面<==把它看成二級體.......

順向會有PN接面的特定阻抗,逆向阻值偏無限大.......<=指針三用表的好處....如果聽的懂,那你就住在巷子內!!
發表於 2010-1-4 01:48:39 | 顯示全部樓層

多謝指教

謝啦大大,對電子的元件有點點點點點點的概念了,謝謝啦,因為我是菜到快菜死的菜鳥,有學到,謝謝
發表於 2010-1-4 23:44:43 | 顯示全部樓層
所有元件的測量跟解說都很詳細,讀缺高壓線圈的測量與解說,可否請狼大另開一文詳細解說
發表於 2010-1-6 02:36:17 | 顯示全部樓層
多謝大大提供資訊, 給新手指教
發表於 2010-1-8 18:25:04 | 顯示全部樓層
電晶體損壞~無外關異常時~也可以在上電時測量BE腳
電壓約在0.4~0.8之間~超過或是斷路也表示不正常~
但不適用於內帶二極體的電晶體~
型號例如:
http://www.fairchildsemi.com/ds/TI/TIP122.pdf
有空再來整理一下要如何測量達靈頓+二極體的方法~
發表於 2011-4-9 19:19:11 | 顯示全部樓層
謝謝大大好東西與大家分享
感恩啦
發表於 2011-4-27 00:23:49 | 顯示全部樓層
好 好 好n_116|
發表於 2011-5-8 18:29:26 | 顯示全部樓層
讚啦  受益良多
發表於 2011-5-21 12:37:33 | 顯示全部樓層
吸取前輩的經驗論
可快步彌補基礎
發表於 2011-5-22 06:41:59 | 顯示全部樓層
多謝大大提供資訊, 給新手指教
發表於 2011-6-2 10:58:25 | 顯示全部樓層
之前在光華商場買了一個 LED 紅色電子鐘,但用了不到一個月,就不叫了(鬧鈴、報時沒聲音),拆開弄一下有時喇叭又會有叫聲,不知是哪個零件出問題,外觀都看不出來,一星期之後,終於發現發生的電晶體電路有問題,其中一顆編號 S8050 的電晶體,時好時壞,量測有時OK,有時BE極不OK,找一顆C945的電晶體替代一下,目前可正常叫了(鬧鈴、報時有聲音),不曉得是不是大陸零件的問題?(此行 LED 紅色電子鐘上網查是大陸製品,只是賣到台灣來字體改繁體中文 ,包裝也是繁體中文 ==> 我被騙了)
發表於 2011-6-2 11:01:58 | 顯示全部樓層
電晶體,為什麼會時好時壞呢(用三用電表量測)?這是我納悶的地方?
發表於 2011-6-16 11:47:56 | 顯示全部樓層
很好的元件故障教學,可快速找到故障點,受教了!
發表於 2011-6-17 08:40:36 | 顯示全部樓層
w大…有關二極體  " 穩定性變差,表現為開機時正常,工作一段時間後,發生軟擊穿 "…
是否可請您再詳述量測方法…謝謝!
發表於 2011-7-16 02:10:23 | 顯示全部樓層
讚很實用
發表於 2011-7-16 07:08:12 | 顯示全部樓層
"軟擊穿"
從字面上
無法完全了解
wish大大可以詳細解說嗎?
發表於 2011-7-16 09:21:53 | 顯示全部樓層
軟擊穿....可以說有些情況定義之,例如說某BJT電晶體其hfe值已經超越其正常值,那麼在一般類比電路上運作,會出現工作特性曲線偏移,或也會有一些類似漏電的情況出現,如高溫等等;也可以說元件久了出現老化現象,PN接面載子在運作時,出現漏電狀況(表示其阻抗有偏低之狀況),那會影響電路整體的運作。
發表於 2011-7-16 10:38:39 | 顯示全部樓層
不錯的分析.... 受益良多 ..
發表於 2011-7-16 17:00:03 | 顯示全部樓層
s10274chen 發表於 2011-7-16 09:21 AM static/image/common/back.gif
軟擊穿....可以說有些情況定義之,例如說某BJT電晶體其hfe值已經超越其正常值,那麼在一般類比電路上運作, ...

您要不要由它的物理面來解說這個現象是怎麼造成的?
發表於 2011-7-16 17:09:26 | 顯示全部樓層
本帖最後由 s10274chen 於 2011-7-16 05:09 PM 編輯

回覆 逃兵 的帖子

物理面.....挖勒....這個逸倫可就會頭疼了,忘得差不多了。
會是像說熱跑脫之類的東東嗎?
發表於 2011-7-16 17:25:27 | 顯示全部樓層
我用 Google 翻譯 "軟擊穿" = Soft Breakdown 再拿這個當關鍵字搜尋,耶!真的有不少文章可看。
發表於 2011-7-16 17:57:56 | 顯示全部樓層
s10274chen 發表於 2011-7-16 05:09 PM static/image/common/back.gif
回覆 逃兵 的帖子

物理面.....挖勒....這個逸倫可就會頭疼了,忘得差不多了。

no, 由製程的角度來看。
由物質不滅來看。。。。。。。可以來討論
發表於 2011-7-16 21:54:05 | 顯示全部樓層
本帖最後由 s10274chen 於 2011-7-16 09:54 PM 編輯

回覆 逃兵 的帖子

啊!由製程來看....逃兵大您是說P型半導體、N型半導體、電子、電洞這些東西?又扯上物質不滅....這逸倫又更摸不著頭腦了。n_067|

若是說從少數載子產生的逆向飽和電流來看,在運作的時候,溫度上升,共價鍵被破壞,導致少數載子的電子、電洞這些變多了,少數載子的遷移狀況會更加嚴重,晶體漸漸崩潰。
發表於 2011-7-16 23:56:31 | 顯示全部樓層
s10274chen 發表於 2011-7-16 09:54 PM static/image/common/back.gif
回覆 逃兵 的帖子

啊!由製程來看....逃兵大您是說P型半導體、N型半導體、電子、電洞這些東西?又扯上物質 ...

....除了溫度..還有瞬間過壓或是過流引起的電洞填補效應..應該也算吧..
發表於 2011-7-17 08:12:05 | 顯示全部樓層
s10274chen 發表於 2011-7-16 09:54 PM static/image/common/back.gif
回覆 逃兵 的帖子

啊!由製程來看....逃兵大您是說P型半導體、N型半導體、電子、電洞這些東西?又扯上物質 ...

這麼說好了。
當這些個P還是N在製做時,是進火爐去”燒”,去”污染”它們的。
用多少濃度的污染物,在多高的溫度會有多少擴散,造成了它的厚度跟深度有多少。
這就是某一極的製造方法。

而你在成品操作上讓它出現問題。
這表示你是不是已經改變了它原來污染的濃度跟厚度還有深度了?
而這個可以利用一些工程數學上的式子去推倒。。。。。。。啊不對,是推導。n_112|

加油,大學生。
聽說你很利害。多增加些視野。
發表於 2011-7-17 10:46:13 | 顯示全部樓層
逃兵 發表於 2011-7-17 08:12 AM static/image/common/back.gif
這麼說好了。
當這些個P還是N在製做時,是進火爐去”燒”,去”污染”它們的。
用多少濃度的污染物,在多 ...

你好狠....不過...他大學畢業就要當兵了...
肯定會把這些東西全部忘光吧....哈哈....
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