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樓主 |
發表於 2009-6-8 17:18:46
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RST內存檢測軟件使用說明
Ram Stress Test是美國Ultra-X公司旗下的一個專業記憶體測試程式，是專門給系統生產廠商出機前用的測試程式，他其實是從其他的產品獨立出來的一項測試，該公司專作系統測試的軟硬體，方便生產廠商將產品做詳細測試，至於R.S.T.在目前記憶體生產業使用非常普遍，因為經過他的測試幾乎就能應付大部分的記憶體問題，所以是非常好用的一個測試工具！！
使用非常簡易，只要設定為軟碟開機就行了，他是一個獨立開發的系統，沒有依附任何作業系統，相容於x86系列，只要BIOS認的到的容量他都能測！！
發現 ATS 選項錯誤，在BIOS中，記憶體選項設成Auto時，記憶體的CL=2，改成Manual，自設CL=2.5時，上述選項才能通過。
附件IMZ需要用winImage展開到軟盤上，然後用此軟盤啟動系統。
附件NRG是用Nero燒錄可啟動光盤的軟盤鏡像文件。
程序執行後，第一選項是測試物理內存中基本內存地址（<640K），第二項是擴展內存地址，第三項是測試你CPU的L2 cache。
☆ 可以測試SD及DDR內存。
☆ 閃動數字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表內存條的8顆顆粒。
從左到右橫著數：0-7代表第1顆粒區域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒
☆ 點不亮內存的測試方法——很多內存短路或者顆粒損壞後都不能點亮，點不亮的可以用一根好的內存去帶動它（可解決部分點不亮問題）。必須SD的帶SD的，DDR的帶DDR的。本軟件會自動跳過好的去檢測壞的那根。
☆ 發現 ATS 選項錯誤，在BIOS中，記憶體選項設成Auto時，記憶體的CL=2，改成Manual，自設CL=2.5時，上述選項才能通過。
☆ 程序執行後，第一選項是測試物理內存中基本內存地址（<640K），第二項是擴展內存地址，第三項是測試CPU的 L2 cache。
RAM測試軟件說明書
(R.S.T )UX版
閃動的一排測試數字代表內存8顆粒的測試情況。
從左至右，0-7代表第一區域，8-F代表第二區域;0-7代表第三區域,8-F代表第四區域;……依次代表內存條的8顆顆粒。
⒈DDR8位與16位的單面測法:
⑴. 0-7(1 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第1顆粒已經損壞
⑵. 8-F(2 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第2顆粒已經損壞
⑶. 0-7(3 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第3顆粒已經損壞
⑷. 8-F(4 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第4顆粒已經損壞
⑸. 0-7(5 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第5顆粒已經損壞
⑹. 8-F(6 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第6顆粒已經損壞
⑺. 0-7(7 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第7顆粒已經損壞
⑻. 8-F(8 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第8顆粒已經損壞
注意DR的顆粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的雙面DDR內存,如以上顯示界面圖:
1-16M -----------------------------------------------------------------------------------------------------------
16-32M ------------------------------------------------------------------------------------------------------
32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
從1M到64M的上面的4根虛線上出現亂碼的話,說明這根內存的的第一面的顆粒有問題(判斷哪個顆粒的好壞按照以上的說明)
64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
從64M到128M的上面的4根虛線上出現亂碼的話,說明這根內存的的第二面的顆粒有問題(判斷哪個顆粒的好壞按照以上的說明)
注意:在內存的PCB板上的兩邊標著1與92的代表第一面，93與184的代表第二面。1-128M的8根虛線是用來區分兩面區域的作用.
⒊SD的8位與16位的單面測法:
⑴. 0-7(1)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第8顆粒已經損壞
⑵. 8-F(2)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第4顆粒已經損壞
⑶. 0-7(3)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第7顆粒已經損壞
⑷. 8-F(4)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第3顆粒已經損壞
⑸. 0-7(5)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第6顆粒已經損壞
⑹. 8-F(6)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第2顆粒已經損壞
⑺. 0-7(7)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第5顆粒已經損壞
⑻. 8-F(8)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第1顆粒已經損壞
（註： PCB板上從1到84為第一面，顆粒的排列順序從1到84為8-7-6-5-4-3-2-1，切記注意）
4.通過以上的介紹，說明SD的雙面是跟DDR的是一樣的。但是顆粒的好壞判斷要按照
它們的排列循序來判斷。
5.PCB板的短路或者虛焊的測法:如果在8根虛線上都出現亂碼，說明這根內存的PCB板有問題
6.點不亮的內存的測試方法: 很多內存短路或者顆粒損壞後都不能點亮，點不亮的可以用一根好的內存去帶動它。 必須SD的帶SD的，DDR的帶DDR的。本軟件會自動跳過好的那根去檢測壞的那根。
7.使用方法:直接把光盤插入光驅,在主板的CMOS裡設置光驅起動, 啟動後本軟件會自動引導到測試界面進行檢測 |
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